Jeudi 24 septembre 2009
11h30 : déjeuner
13h30 : accueil
13h50 : Introduction : le GdR, l'atelier, la technique (30 min)
O. Thomas , B. Devincre, O. Robach, F. Rieutord
F. Rieutord : White beam microdiffraction setup on BM32
Session 1 : Mécanique et plasticité
14h20 : O. Castelnau (LPMTM, Villetaneuse) (40 min + 10 de questions)
Comportement des polycristaux par les approches micromécaniques (du micron au mm)
15h10 : J. Thibault (IM2NP, Marseille) (40 min + 10 de questions)
Plasticité vue par la microscopie électronique
16h00 : pause
Session 2 : Les défauts cristallins vus par les rayons X - simulation de la forme des taches de diffraction
16h20 : G. Monnet (EDF, Moret-sur-Loing) (30 min + 5 de questions)
Influence de la microstructure de dislocations sur l'élargissement de profils de diffraction des rayons X monochromatiques
16h55 : S. Labat (IM2NP, Marseille) et B. Devincre (LEM CNRS/ONERA, Châtillon)
(40 min + 10 de questions)
Modélisation des formes de pics en microdiffraction 1
Modélisation des formes de pics en microdiffraction 2
17h45 : posters + boissons
20h30 : dîner au restaurant
Vendredi 25 septembre 2009 - matin
Session 3 : Techniques de mesure
Session 3a : Au-delà de la microdiffraction Laue « 2D » : extension au 3D ou alternative (3DXRD)
09h00 : Jon Wright (ESRF, Grenoble) (30 min + 5 de questions)
The FABLE software project and 3D X-ray diffraction for mapping local orientations
09h35 : P. Bleuet (CEA/LETI Grenoble) (15 min + 5 de questions)
Expérience et premiers résultats en imagerie Laue résolue en profondeur
09h55 : W. Ludwig (ESRF, Grenoble) (15 min + 5 de questions)
3D Grain structures from x-ray diffraction contrast tomography
10h15 : pause
Session 3b : L’analyse de la microdiffraction Laue
10h35 : J.S. Micha (SPrAM, CNRS, Grenoble) (35 min + 10 de questions)
L'analyse automatique des données de microdiffraction Laue: rêve ou réalité?
11h20 : O. Robach (CEA / INAC, Grenoble) (40 min + 10 de questions)
Mesure des déformations élastiques : évaluation des incertitudes (version fr)
(English version)
Vendredi 25 septembre 2009 - après midi
12h30 : déjeuner
Session 3c : Exemples d’applications de la microdiffraction Laue
14h30 : O. Sicardy (CEA / LITEN, Grenoble) (15 min + 5 de questions)
Détermination locale de contraintes dans des couches minces de zircone poly-cristalline : cas des électrolytes de cellules SOFC
14h50 : H. Palancher (CEA/DEC, Cadarache) (15 min + 5 de questions)
Déformations induites dans UO2 par irradiation/implantation d'ions : étude par DRX conventionnelle et par O-DRX Laue.
Session 3d : Démonstration commentée des logiciels d'analyse
Apportez votre ordinateur portable !
attention : pour XMAS, une machine Windows (réelle ou virtuelle) sera nécessaire.
15h10 : O. Robach (20 min + 10 questions)
Analyse avec XMAS
15h40 : J.S. Micha (30 min + 10 questions)
LaueTools, un projet open-source d'analyse des données
16h20 : discussion générale et conclusions
