GDR MECANO 

Premier atelier, Marseille 13-14 mars 2008


Programme du Vendredi 14 mars 2008

Session II.b : Méthodes d'analyse des déformationset des propriétés mécaniques
Animateur : P. Goudeau

8h30 - Anne Ponchet, C. Gatel, M.J. Casanove, C. Roucau et A. Rocher, CEMES CNRS, Toulouse - Apports et limites de la microscopie électronique en transmission à l'étude des contraintes dans des systèmes nanométriques
9h05 - Odile Robach, DRFMC/SP2M/NRS CEA, Grenoble - Techniques récentes de diffraction X synchrotron  pour la micro-cartographie des orientations et déformations dans les matériaux cristallins complexes
9h40 - Ludovic Thilly, F. Lecouturier, P.-0. Renault, PhyMat CNRS-Univ. Poitiers - Plasticité des fils nanocomposites Cu/Nb hyper-déformés: apports de la déformation in-situ sous neutrons et rayonnement synchrotron
10h00 - Virginie Chamard, IM2NP CNRS-Aix-Marseille Universités, Marseille - Imagerie des cristaux aux échelles nanométriques par diffraction cohérente de rayons X
10h20 - Damien Faurie, O. Castelnau, G. Geandier, P. Djemia, S.-M. Chérif, LPMTM CNRS-Univ. Paris XIII, Villetaneuse - Modélisation des propriétés élastiques de films minces mesurées par diffraction des rayons X et perspectives vers le couplage magnéto-élastique

10h40 –Pause et posters

11h10 - Arnaud Devos, J.-F. Robillard, P.A. Mante, I. Roch-Jeune, IEMN CNRS-Univ. Lille 1, Villeneuve d'Asq - Propriétés élastiques de nanostructures sondées par impulsions laser ultra-brèves
11h30 - Roland Fortunier, PECM CNRS-Mines St Etienne - Apport de l’EBSD à la mesure des déformations élastiques locales
11h50 - Pierre Carbonnelle, MEMS Instruments, UC Louvain - Nanocaractérisation mécanique à l’aide de MEMS

12h10 – Repas

Session III : Croissance
Animateur : P. Müller

13h30 - Jean-Christophe Harmand, LPN CNRS, Marcoussis et GdR « Nanofils » - Croissance de nanofils de semiconducteurs III-V : quelques mécanismes
14h15 - M. Kazzi, C. Botella, Geneviève Grenet, G. Saint-Girons, et G. Hollinger, INL CNRS-Centrale Lyon, Ecully - Caractérisation d’hétérostructures  par diffraction de photoélectrons de haute énergie : oxyde/oxyde et oxyde/semiconducteur
14h35 - Jean-Charles Barbé, E. Dornel, D. Girardeau-Montaud, F. de Crécy et J. Eymery, CEA leti - Morphological evolution of thin solid films: strain and surface energy anisotropy effects on dewetting  
14h55 – J-N  Aqua, Thomas  Frisch,  et Alberto  Verga, IM2NP CNRS-Aix-Marseille Universités, Marseille - Dynamique de l’instabilité morphologique  d’un film mince épitaxié
15h15 – Discussion générale, conclusions, perspectives

16h30 - Fin


programme du jeudi 13 mars 2008
programme du vendredi 14 mars 2008
session posters

CNRS