- David Peyrou , F. Coccetti, P. Pons, R. Plana, LAAS CNRS, Toulouse - Elasto-Plastic Contact Analysis Between Rough Surfaces by Analytical and Reverse Engineering Approaches
- Florence Lecouturier, V. Vidal, L. Thilly, P-O. Renault, J.B Dubois, LNCMP CNRS-Univ. Toulouse, Toulouse - Déformation plastique sévère appliquée à une matrice de cuivre renforcée par des nanotubes de niobium: évolution de la texture et de la microstructure, corrélation avec les propriétés mécaniques
- Pierre Carbonnelle, MEMS Instruments, UC Louvain - Nanocaractérisation mécanique à l’aide de MEMS
- Julien Durinck, J. Colin, C. Coupeau, PhyMat CNRS-Univ. Poitiers, Poitiers - Modélisation du phénomène de flambage d’un film mince par dynamique moléculaire
- G. Geandier, E. Le Bourhis, P. -O. Renault, Philippe. Goudeau, B. Girault, P. Valat, D.Eyidi, P Guérin, O. Castelnau, R. Chiron, R. Randriamazaoro, D. Thiaudière, PhyMat CNRS-Univ. Poitiers, Poitiers - Caractérisation et modélisation des propriétés élasto-plastiques de films nano-structurés
- Philippe Goudeau, G. Geandier, P.-O. Renault, N. Tamura, C. Coupeau, F. Foucher, PhyMat CNRS-Univ. Poitiers, Poitiers - Etude par micro diffraction synchrotron de la délamination de films minces induite par un essai de compression in situ
- Philippe Goudeau, O. Thomas, PhyMat CNRS-Univ. Poitiers, Poitiers - Micro - diffraction Laue: un nouveau projet de ligne à SOLEIL pour l’identification de phase et la mécanique des matériaux
- R. Delamare, S. Blayac, M. Kasbari, K. Inal, Christian Rivero, STMicroelectronics, Rousset - Mechanical Stress Sensors for Damascene Interconnects
- Renaud Vayrette, K. Inal, S. Blayac, B. Gros, C. Rivero, STMicroelectronics, Rousset - Evaluation de l’hétérogénéité des contraintes dans les interconnexions des dispositifs microélectroniques
- Sergey Grachev, A. Mehlich, J.-D. Kamminga, E. Barthel, E. Søndergård , SVI CNRS-St Gobain, Aubervilliers - Adhesion test by inducing telephone-cord delamination
- Nicolas Vaxelaire, S. Labat, O. Thomas, IM2NP CNRS-Aix-Marseille Universités, Marseille - Etude par diffraction X de l'inhomogénéité des contraintes dans un film mince polycristallin de cuivre
- Belkhiri Kaouache, S. Labat, O. Thomas, IM2NP CNRS-Aix-Marseille Universités, Marseille - Inhomogénéités des contraintes dans les interconnexions de cuivre - Analyse par diffraction des rayons X
- Dominique Thiaudiere, S. Somogyi, S. Réguer, F. Alves, F. Picca, M. Ribbens, Synchrotron SOLEIL, St Aubin - Description de la ligne DIFFABS à SOLEIL
- Philippe Djemia, D. Faurie, Y. Roussigné, F. Tétard, S.M. Chérif - LPMTM CNRS-Univ. Paris XIII, Villetaneuse - Propriétés élastiques de couches et multicouches par diffusion Brillouin
- D. Bordel, P. Regreny, L. Di Cioccio, et Geneviève Grenet, INL CNRS-Centrale Lyon, Ecully - Obtention de pseudosubstrats par relaxation d’un film mince sur une couche épaisse de polymère
- Mahmoud Eddrief et V. H. Etgens, INSP CNRS-Univ. P. et Marie Curie, Paris - Croissance des nanofils de ZnSe sur substrat GaAs(001) et (111)B
- H. Mortada, M. Derivaz, Didier Dentel, J. L. Bischoff, LPSE CNRS-Univ. Haute Alsace, Mulhouse - Morphologie et relaxation de surface lors de la croissance de semi-conducteur sur substrats isolant LaAlO3(001)
- A. Fillon, Gregory Abadias, A. Michel, C. Jaouen, PhyMat CNRS-Univ. Poitiers - Contraintes et effets interfaciaux dans les multicouches Mo/Si : Apport des mesures in situ à la croissance
- Juan Olives, CiNaM CNRS, Marseille - Singularités et équations d’équilibre aux interfaces solide-fluide et lignes triples de contact solide-fluide-fluide, pour un solide élastique
- Raissi Mahfouhd, G. Regula, C. Hadj Belgacem, F. Robert, B. Hollaender, M. Fnaiech, E. Ntsoenzok, et J.-L. Lazzari, CiNaM CNRS, Marseille - Couches relaxées de SiGe épitaxiées sur substrats Si(001) implantés He à nanocavités enterrées
- A. Béché, J.L. Rouvière , J. Eymery, J.C. Barbé, F. Andrieu, D. Rouchon, M. Mermoux, INAC/SP2M/LEMMA CEA, Grenoble - Mesure locale des déformations par microscopie électronique
- C. Alfonso, W. Saïkaly, J. Thibault, M2NP CNRS-Aix-Marseille Universités, Marseille - Mesure des déformations locales par Diffraction Electronique en Faisceau Convergent
- B. Croset, G. Prévot, A. Coati, Y. Garreau, INSP CNRS-Univ. P. et Marie Curie, Paris - Déplacements et interactions élastiques pour des surfaces nanostructurées périodiques
- R. Lebensohn, R. Brenner, O. Castelnau, A. D. Rollett, LPMTM CNRS-Univ. Paris XIII, Villetaneuse - Investigation of subgrain texture at the surface of polycrystalline copper using a full-field modelling
- F. Amiot, F. Hild, F. Kanoufi, JP Roger, FEMTO-ST CNRS-Univ. Besançon, Besançon - Identification from multi-physical full-field measurements : the electro-elastic coupling
- M. Quasmi, F. Richard, P. Delobelle, FEMTO-ST CNRS-Univ. Besançon, Besançon - Elasto-plastic properties of electroplated and polycrystalline nickel using numerical modelling of the nano-indentation test and an inverse method
- P. Vairac, B. Cretin, FEMTO-ST CNRS-Univ. Besançon, Besançon - Characterization of layered material with near-field acoustic microscopy.
- A. Andrei, K. Krupa, P. Delobelle, L. Hirsinger, C. Gorecki, L Nieradko, FEMTO-ST CNRS-Univ. Besançon, Besançon - AlN as an actuation material for MEMS the case of AlN driven cantilevers
- F. Bernard, C. Rousselot, L. Hirsinger, P. Delobelle, FEMTO-ST CNRS-Univ. Besançon, Besançon - Characterization of ferromagnetic shape-memory alloy Ni2MnGa deposited by R.F.-magnetron sputtering
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