| Equipe Réactivité et Diffusion aux Interfaces | |
| Adresse : IM2NP Faculté des Sciences et Techniques Aile 1, niveaux 3 et 4 - services 131 et 141 Avenue Escadrille Normandie Niemen 13397 Marseille Cedex 20 France | |
L'analyse chimique à l'échelle atomique des métaux, des semi-conducteurs et des oxydes est maintenant possible à l'Im2np grâce à l'acquisition d'une sonde atomique assistée par laser unique en France | Thèmes de recherche : La compréhension de la réactivité à l'état solide et de la diffusion à l'échelle nanométrique passe par le développement de méthodologies nouvelles aussi bien sur le plan conceptuel que sur le plan expérimental. Sur le plan conceptuel, les films minces ou multicouches de taille nanométrique possèdent un grand rapport interfaces/volume, qui nécessite de prendre en compte : (i) le comportement des interfaces lors des transformations de phases afin de maîtriser la formation et la stabilité de phases stables ou métastables, (ii) le rôle des interfaces sur la diffusion. Sur le plan expérimental, nous avons développé (i) une approche originale basée sur l'utilisation de techniques d'analyse de surface pour étudier les aspects cinétiques du transport de matière tant au voisinage d'une interface que dans des matériaux nanocristallins, (ii) des techniques in situ et en temps réel (calorimétrie différentielle, diffraction X) qui apportent des informations cinétiques sur la réactivité et la redistribution à l'échelle nanométrique. Des modèles originaux ont également été proposés pour simuler les processus de diffusion et de redistribution. Les matériaux étudiés à fort potentiel industriel sont principalement des intermétalliques, des siliciures mais également des matériaux métalliques et des oxydes. |
| Mots clefs : Cinétique, thermodynamique, diffusion, ségrégation, - Engineering cinétique, Métallisation -Interfaces, surface, joints de grain - Multicouches, films minces, nanophases- Intermétalliques, siliciures- dynamique de charge, charges d‚espace, claquage diélectrique | |
| Equipements spécifiques : Élaboration Evaporation par faisceau électronique Pulvérisation Fusion-lévitation Traitement thermique Fours classiques sous vide, sous atmosphère Recuit thermique rapide Techniques de caractérisation Diffraction de rayons X: un diffractomètre et deux chambres en température sous vide Calorimétrie: calorimètres différentiels à balayage (DSC) et microcalorimètre Calvet Mesure de résistance en température Spectrométrie Auger + LEED: 2 systèmes avec dépôt et chauffage in situ (1 classique et 1 à balayage) Spectroscopie d‚annihilation de positrons (PAS) MEB équipé pour les techniques SEMM, ICM Sonde atomique tomographique Imago | |
| Partenaires : STMicroelectronics, ATMEL, CEA-LETI, Ministère ACI Nouveaux matériaux, Projet plateforme caractérisation CIM-PACA,  Fonds Social Européen (FSE) Collaborations scientifiques : | |
