Les plateformes techniques

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Sonde atomique tomographique

Cette sonde atomique tomographique assistée par laser est capable de caractériser les nanomatériaux. Cet équipement est complété par un système de nano-usinage (focused ion beam -FIB- dual beam) permettant la préparation, la manipulation et les analyses d’échantillons pour la sonde atomique. La SAT est un instrument permettant d’obtenir une  image tridimensionnelle de la distribution des atomes avec une résolution spatiale de quelques angströms. Cette technique unique permet de reconstruire un petit morceau de matériau, atome par atome, dans les trois dimensions de l’espace.

Microscope électronique à transmission

Ce microscope électronique à transmission - corrigé des aberrations géométriques en image - a été installé en 2008. L’objectif est principalement la microscopie électronique quantitative. Par quantitatif, il faut entendre mesure absolue ou relative des intensités en imagerie (HRTEM ou HAADF) en diffraction (CBED), en spectroscopie et leur comparaison aux grandeurs correspondantes simulées.

Plateforme NanoTecMat

NanoTecMat est dédiée à l’étude et à la fabrication de composants modèles (principalement à base d’éléments semiconducteurs de la colonne IV). Le but est d’offrir aux utilisateurs une chaîne complète de techniques allant de l’élaboration à la caractérisation des nanomatériaux jusqu’à la fabrication de composants modèles en micro, nano et opto-électronique

Conception de circuits intégrés

La plateforme conception met à disposition et à proximité des communautés académiques & industrielles des outils de conception assistés par logiciels (CADENCE, HFSS, SYNOPSIS …) ainsi qu’un banc de test permettant de mesurer différents paramètres fonctionnels des circuits intégrés radiofréquence (RF).

Plateforme de calcul scientifique haute performance (PLACS)

Organisée en particulier autour du cluster Merlin, PLACS compte aujourd'hui plus de 300 cœurs de calcul, en 3 tranches à usages dédiés. La première tranche (52 cœurs) permet d'effectuer en parallèle des calculs très peu liés (parameters sweep, moyennes, ...). La deuxième tranche (240 cœurs) est plus adaptée aux calculs parallèles à mémoire distribuée (résolution de systèmes linéaires, diagonalisations, …). Enfin, la troisième tranche (8 cœurs) est adaptée aux calculs à forte demande en mémoire vive (calculs ab-initio, diagonalisation exacte, …).

Diagnostic RFID

Le laboratoire dispose d’une plateforme dédiée à la caractérisation de systèmes RFID. Le premier banc de mesure réalisé est dédié à la pré-certification des produits sans contact sécurisés conformes à la norme ISO/IEC 14443 (passeport électronique, e-visas, cartes bancaires sans contact). En 2008, est né d’une volonté régionale commune, le projet d’une plateforme de pré-certification RF multifréquences.

ASTEP LSM

Cette plateforme permanente dédiée à la caractérisation des composants et circuits électroniques dans l’environnement radiatif terrestre naturel (problématique des neutrons atmosphériques) est dénommée ASTEP (Altitude Single-event effects Test European Platform) et située sur le désertique Plateau de Bure, dans le massif du Dévoluy, à 2552m. Cette installation est hébergée au sein de l’Observatoire du Plateau de Bure de l’Institut de Radioastronomie Millimétrique (IRAM) où elle bénéficie d’un environnement idéal à très faible bruit, notamment électromagnétique.

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