Soutenance de thèse de Jérôme Loizillon - 04/10/19 - Développement de l'ellipsométrie porosimétrie pour la caractérisation de couches minces nanoporeuses appliquées aux panneaux solaires

Annonce de Soutenance de thèse

M. Jérôme LOIZILLON

Développement de l'ellipsométrie porosimétrie pour la caractérisation de couches minces nanoporeuses appliquées aux panneaux solaires

Vendredi 04 octobre  à 14h00 - salle des thèses - Campus de Saint-Jérôme

Composition du jury :

David Grosso              Professeur, Aix Marseille Université                         Directeur de thèse

Florence Babonneau   Directrice de recherche LCMCP, Paris                      Rapporteure

Corine Gérardin          Directrice de recherche ICGM Montpellier               Rapporteure

Philippe Llewellyn      Directeur de recherche MADIREL Marseille            Examinateur

Mika Lindén               Professeur, Institute of Inorganic Chemistry, Ulm     Examinateur

Xavier Paquez             DSM                                                                           Invité

Damien Reardon         DSM                                                                           Invité

Résumé:

Avec le développement des nanotechnologies, la nécessité d’élaborer des matériaux à très petite échelle s’est accrue. En particulier, les couches minces (du nanomètre au micromètre) nanoporeuses sont utilisées dans de nombreux domaines tels que l’optique, l’électronique, ou la détection. Leur utilisation principale en tant que revêtement anti-reflets est cruciale pour les panneaux solaires en permettant d’augmenter leur rendement global. Pour ce type d’application, les couches minces doivent être capable de supporter des phénomènes d’abrasion (sable, nettoyage) ou des attaques chimiques (pluie, pollution). La caractérisation de la porosité des couches minces est un prérequis pour ajuster leurs propriétés mais également pour suivre l’évolution de la couche lors de son vieillissement. Cependant, à cause de leur taille infime, la caractérisation des couches minces reste difficile. L’ellipsométrie porosimétrie, une technique basée sur la sorption de gaz dans la porosité, est un des techniques les plus adaptées pour cette tâche. Dans cette thèse, de nouveaux revêtements anti-reflets pour panneaux solaires ont été élaborés et leur résistance à leur environnement a été éprouvée. La caractérisation de leur porosité a été améliorée grâce au développement de l’ellipsométrie porosimétrie au-delà de l’état de l’art actuel. La précision de celle-ci a été évaluée par comparaison avec une autre technique et une meilleure caractérisation des interconnexions entre les pores a pu être atteinte en ajouter une nouvelle méthode d’analyse. Cela a également permis d’établir une meilleure compréhension fondamentale des phénomènes d’adsorption dans les couches minces nanoporeuse.