Une double caractérisation par rayons X de la dynamique de solidification du silicium

Les travaux des chercheur.es de l’Institut des matériaux, de microélectronique et des nanosciences de Provence (IM2NP) avec les scientifiques de l’installation européenne de rayonnement synchrotron à Grenoble (ESRF, ligne ID19) ont été mis à l’honneur. L’actualité scientifique intitulée « Une double caractérisation par rayons X de la dynamique de solidification du silicium » a été mise en ligne sur le site web de l’INP (Institut de Physique) du CNRS et dans la lettre électronique En direct des labos  du CNRS datée du 12 mai 2020.

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Ces travaux ont été publiés dans le Journal of Applied Crystallography: Becker et al., Journal of Applied Crystallography 52 (1019) 1312, (https://doi.org/10.1107/S1600576719013050).