Séminaire - 16/11/2023 - Séminaire TECH DAY MARSEILLE 2023 - 16/11/2023 : Rencontre technique avec le fabricant TEKTRONIX / KEITHLEY
SEMINAIRE Jeudi 16 novembre 2023 de 9h à 12h30
Salle des séminaires de l'Im2np, campus de Saint-Jérôme, 1er étage Bâtiment Poincaré (entre l'aile 1 et l'aile 2)
IM2NP - Site de Saint Jérôme à Marseille
52 Avenue Escadrille Normandie Niémen
MARSEILLE 13013
PROGRAMME :
9h00-9h30 : Welcome coffee !
9h30-10h45 :
Présentation des possibilités des générateurs de formes d’ondes arbitraires flexibles pour générer des signaux complexes dans le domaine temporel et le domaine spectral.
Impulsions de largeurs variables à partir de 40ps, porteuses RF modulées IQ, PRBS propre ou avec insertion de JITTER.
Intervention technique de Pascal GRISON, Ingénieur Application TEKTRONIX France. Pascal a plus de 23 ans d’expérience au sein des leaders de l’Electronique : Expert dans les applications de données série à haut débit, diagramme en œil NRZ/PAM4 électrique et optique, analyse et décomposition de la gigue, analyse du bruit du rail d’alimentation, TDT/TDR, paramètres S, modulation et démodulation optique cohérente, générateurs de formes d’ondes arbitraires. Il excelle dans la préconisation et la mise en œuvre de solutions complètes pour les tests de conformité de la couche physique des liens série rapides (DDR4, DDR5, HDMI 2.1, USB3.2, Display Port, PCI-Express..).
10h45-11h00 : Pause et discussions autour des appareils présents (oscilloscopes haute fréquence, générateurs de fonctions..).
11h00-12h15 :
Caractérisation I-V, C-V et I-V en mode impulsionnel : mesures de capacité faible, mesures de résistivité (4 pointes colinéaires et van der pauw) et mesures tension-courant (modes DC et impulsionnel).
Intervention technique de Mickaël BILLAUD, Ingénieur Application TEKTRONIX France. Mickael a plus de 15 ans d’Expérience dans la Mesure DC et les applications autour du sensible, de l'acquisition de données et du segment de performance des produits Keithley. Mickael offre son expertise avec une précision d’orfèvre, dans de nombreuses configurations telles que les Systèmes de tests paramétriques, analyseurs de paramètres de semi-conducteurs, traceurs de courbes paramétriques de semi-conducteurs, sourcemètres, systèmes d'acquisition de données (DAQ), multimètres numériques (DMM), électromètres, picoampèremètres, nanovoltmètres, alimentations, charges électroniques, simulateur de batterie.
12h15-12h30 : Discussions autour des appareils présents (Analyseur paramétrique IV et CV, unité de source et mesure faible I, ..).
Equipe Recherche organisatrice |
Equipe Technique co-organisatrice |
Les Invités |
Animateurs Action Transverse Intégration Hétérogène |
Fabricant TEKTRONIX / KEITHLEY |
Recherche, Enseignement supérieur |
Sandrine BAKAREL-BERNADINI (IM2NP-Equipe MCI) Rémy VAUCHE (IM2NP-Equipe CCSI) |
Pascal GRISON (Ingénieur) Mickaël BILLAUD (Ingénieur) Béatrice TETE (responsable commerciale secteur Marseille/Aix-Toulon-Nice-Montpellier) |
L’ensemble des Chercheurs permanents et non permanents, les Techniciens/Ingénieurs et les Enseignants des filières techniques |
Nous vous remercions de bien vouloir confirmer votre participation en remplissant le formulaire en ligne.